X線で挑む地球磁気圏のグローバル撮像 令和3~6年度 特別推進研究

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MEMS X線光学系の高解像度化に関する論文が Optics Express に掲載 & プレスリリース

MEMS チームが進めてきたシリコン微細穴 X線望遠鏡の解像度 (目の良さ) 改善に向けたプロセス開発を記した福島君(都立大)の論文がアメリカ光学会の Optics Express 誌に掲載されました。

天体を観測する望遠鏡の重要な性能指標の 1 つが「空間分解能」であり、性能が高いほどより高精細な画像の取得が可能となります。都立大グループが開発する望遠鏡は、X線の反射面となるシリコン表面のナノメートルオーダーのでこぼこ (表面粗さ) が空間分解能の鍵を握ります。本論文では東北大学との共同研究により、世界でも類を見ない 150 時間にも及ぶ高温処理 (1100℃) と、既に確立した研磨技術 (http://www-x.phys.se.tmu.ac.jp/home/wp/?p=813) を組み合わせることで、分解能の大幅な向上を実証しました。

本論文の掲載に関連して、オンラインニュースサービス EurekAlert! でも望遠鏡の紹介記事がプレスリリースされています。一般の方にも分かりやすく、平易な英語で記載されていますので是非ご覧ください。

Optics Express (論文) :
https://opg.optica.org/oe/fulltext.cfm?uri=oe-30-14-25195&id=477390

EurekAlert! (プレスリリース記事) :
https://www.eurekalert.org/news-releases/958643